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        高低温试验箱懂您,更懂中国“芯”

        作者:林频仪器?? 更新时间:2022-02-09 11:03?? ??来源:http://www.pet-fish.com.cn
         
          半导体芯片表面的集成电路也被称为薄膜集成电路。另一种厚膜集成电路是由独立的半导体设备和被动件组成,在集成到衬底或电路板上。芯片厂家在出厂芯片之前需要进行环境测试,模拟芯片在气候环境中的操作和储存适应性,确保芯片在极端环境下正常工作。下面作者带大家一起了解芯片使用高低温试验箱进行整个芯片测试的过程吧!
        高低温试验箱懂您,更懂中国“芯”
          1.在芯片样品处于断电的状态下,先将高低温试验箱内的温度降至-50℃,保持4小时,切记不能在通电状态下进行低温试验,这一点尤为重要,因为芯片本身在通电状态下会产生+20℃以上的温度。因此,在通电状态下,更容易通过低温试验,必须先将其进行冷冻,然后再进行通电试验。
         
          2.对样品进行常规的性能测试,然后与常温下的数据进行比较。
         
          3.对样品进行老化测试,然后对数据进行对比。
         
          4.在进行高温测试时先将高低温试验箱内的温度加热至+90℃,保持4小时。与低温试验恰好相反,高温测试加热过程中不对芯片样品进行断电,需要维持芯片内部的高温温度。
         
          5.高温测试与低温测试分别重复10次。如果测试过程中出现任何异常工作状态,则视为测试失败。
         
          高低温试验主要是对不同半导体材料进行温度试验的过程,可调节流量,提供相应的试验结果。专业芯片测试需要专业的高低温试验箱设备进行,测试主要为芯片行业提供恒定的高温热源和低温冷源,确保芯片行业试验工作的稳定运行。

        高低温湿热试验箱
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